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“纠偏油缸磁致伸缩位移传感器”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 认证： | ISO9001、ROSH、CE |
| 品牌： | BRSEN博尔森 | 类型： | 磁致伸缩 |
| 运动方式： | 直线位移 | 材质： | 铝合金 |
| 型号： | BTL位移传感器 | 规格： | OEM定制 |
| 产量： | 1000 |
“纠偏油缸磁致伸缩位移传感器”详细介绍
纠偏油缸磁致伸缩位移传感器主要由测杆、电子仓、套在测杆上的非接触的位置磁环和相应的电路板组成。工作时，电子仓发送一个电流激励脉冲至波导丝回路，该脉冲会在波导丝周围形成环形磁场。该磁场与位置磁环产生的磁场相遇时，由于磁致伸缩的作用，波导丝内会产生一个扭转应力波脉冲信号。扭转应力波以约2800m/s的速度从位置磁环所在的位置沿着波导丝传回至电子仓内并被检波装置记录下来。记录下激励脉冲与检波装置接收信号的时间差，结合扭转应力波在波导丝中的传播速度，即可确定位置磁环与基准点之间的距离。
1.坚固耐用，全封闭设计；
2.线性测量，绝对输出；
3.易于检测，LED灯实时状态监测；
4.数字技术，稳定可靠；
5.非接触测量方式，永不磨损；
6.高分辨率，最高可达5μm；
7.重复精度可达0.001%F·S；profibus信号输出；
8.支持多磁环位置同时测量。
技术参数：
输入
测量数据直线位移
测量行程50mm-7650mm，可根据用户需要定制
测量个数1-3个位置
输出
输出Profibus-DP总线系统协议，ISO74498
数据格式Profibus-DP（EN-50 170）
传输速度最大12Mbit/s
更新时间1ms（量程≤1000mm）
2.0ms（量程≤2000mm）
3.0ms（量程≤3000mm）
精度
分辨率5/10/20/50/1000um
非线性度<满量程的0.01%，最小±50um
重复精度<满量程的0.001%或与分辨率一样
迟滞<10um
结构与材料
故障指示电子仓尾盖带LED灯显示
RP外置导轨式电子仓：铝合金
测杆：铝合金
位置磁铁：滑块磁铁、方块磁铁、开口磁铁
RH内置耐压式电子仓：铝合金
测杆：304不锈钢
外管耐压：40MPa（连续）/60MPa（峰值）
位置磁铁：标准磁环以及各种环形磁铁
安装
安装方向任意方向
螺纹形式公制M18×1.5，M20×1.5
英制3/4″-16UNF-3A（可定制）
电气连接
出线方式直出电缆或航空插头
输入电压24Vdc(-20～+20%)
极性保护最大-30Vdc
超压保护最大36Vdc
绝缘电阻＞10MΩ
绝缘强度500V
工作电流<50mA（随量程大小而变）
输出特性
以五针接头方式连接（串联）
供电电缆与总线连接是分开的。
以五针接头方式连接（并联）
一个标准的T连接头加上电缆作总线连接，供电电缆是分开的。当线上的任何一个传感器断开的时候，其他线上的传感器还是保持工作的。
以六针接头方式连接（串联）
供电电缆与总线连接是分开的。
使用
DP输出型纠偏油缸磁致伸缩位移传感器满足 Profibus-DP（EN 50 170）协议。传感器将磁环绝对位置数据以RS-485标准串行异步的形式上传到控制器中，最大速率可达12Mbps。Profibus-DP的接口包括西门子Siemens总线控制器SPC3。还可以通过GSD数据表的形式提供强大的诊断和设定功能。
耐压外管尺寸及安装说明
BTL系列耐压外管纠偏油缸磁致伸缩位移传感器，铝型材电子仓，专为液压系统使用设计的，内置于液压缸内部，耐压可达34MPa连续（69MPa峰值）。安装螺纹规格M18×1.5、M20×1.5或3/4”-16 UNF-3A。
D60插头
直出电缆（标准长度为2m）
注：图中所示的上下死区表示传感器在该区域内的输出值为零或者不可靠，本传感器的上下死区值分别为：50.8和63.5mm，该值可以根据客户要求作出适当修改，可在订货时跟我司销售或者技术特别提出。
传感器接线方式
航空插头连接时，以针脚和相对应的线色定义
防水接头直接出线时，以线色定义
D60公接头针号排列(面向传感器头)
三插头针号线色定义针号线色定义
1—VP+5N（只适用于终点接线）
1棕+24VDC
2绿RxD/TxD-N（总线）2白不接
3—DGnd（只适用于终点接线）3蓝0VDC
4红RxD/TxD-P（总线）4黑不接
5屏蔽屏蔽线接机械地
基于磁致伸缩原理而设计新型纠偏油缸磁致伸缩位移传感器具有精度高、有效传递距离远、非接触式、可靠性高且适应于恶劣环境等优点，因而被广泛地应用到各种领域。目前通过由微控制器、信号激励单元、时间检测单元等单元构成的磁致伸缩位移传感器，实现了位移量检测目的，但是以上单元组成的位移传感器，采用电路单元较多，造成电路设计复杂，存在电磁干扰多，容易引起噪声等缺点。而基于单芯片解决方案的磁致伸缩位移传感器技术简化了电路硬件，避免了过多硬件电路所造成的电子干扰，可实现位移量的高精度测量。